Prof. Dr. Stefan Luby

Profil

Derzeitige StellungProfessor W-3 und Äquivalente
FachgebietExperimentelle Physik der Kondensierten Materie
Keywordsdünne Schichten, Lasertechnologien, Nannometer-Strukturierung

Aktuelle Kontaktadresse

LandSlowakei
OrtBratislava
Universität/InstitutionSlovak Academy of Sciences
Institut/AbteilungInstitute of Physics

Gastgeber*innen während der Förderung

Prof. Dr. Wilhelm IutziInstitut für Elektrotechnische Grundlagen der Informatik, Universität Karlsruhe (TH), Karlsruhe
Prof. Dr. Ulrich HeinzmannArbeitsgruppe Molekül- und Oberfächenphysik, Universität Bielefeld, Bielefeld
Prof. Dr. Ulrich HeinzmannFakultät für Physik, Universität Bielefeld, Bielefeld
Beginn der ersten Förderung01.03.1992

Programm(e)

1971Humboldt-Forschungsstipendien-Programm

Publikationen (Auswahl)

2004I. W. Dreeskorneld, G. Haindl, U. Kleineberg, U. Heinzmann, F. Shi, B. Volland, I. W. Rangelow, E. Majkova, S. Luby, I. Kostic, L. Matay, P. Hrkut, P. Hudek, H.-Y. Lee: Nanostructuring of Mo/Si multilayers by means of reactive ion etching.. In: Thin Solid Films, 2004, 227-232
2001A. Anopchenko, M. Jergel, E. Majkova, S. Luby, V. Holy, A. Aschentrup, I. Kolina, Y. Ch. Lim, G. Haindl, U. Kleineberg, U. Heinzmann: Effect of substrate heating and ion beam polishing on the interface quality in Mo/Si multilayers - X-ray comparative study.. In: Physica B, 2001, 14-20
1999M. Spasova, E. Majkova, M. Jergel, R. Senderak, S. Luby, E. D'Anna, A. Luches, M. Martino, E. N. Zubarev, M. Brunel: Structure and giant magnetoresistance of laser irradiated Ag/Co multilayers. In: J. Magn. Magn. Mater. , 1999, 43-45
1999M. Jergel, P. Mikulik, E. Majkova, S. Luby, R. Senderak, E. Pincik, M. Brunel, M. Hudek, I. Kostic, A. Konecnikova: Structure characterization of lamellar multilayer grating by X-ray reflectivity and scanning electron microscopy. In: J. Phys. D: Appl. Phys., 1999, A 220-223
1999S. Luby, M. Jergel, A. Anopchenko, A. Aschentrup, F. Hamelmann, E. Majkova, U. Kleineberg, U. Heinzmann: Thermal behavior of Co/Si/W/Si multilayers under rapid thermal annealing. In: Appl. Surf. Sci. , 1999, 178-184
1999E. Majkova, S. Luby, A. Anopchenko, M. Jergel, M. Luches, M. Martino, P. Mengucci, G. Majni: Thermal behaviour of Co/SiW/Si multilayers under high intensity excimer laser pulses. In: Appl. Suf. Sci. , 1999, 477-481
1998M. Jergel, V. Holy, E. Majkova, S. Luby, R. Senderak, H. J. Stock, D. Menke, U. Kleineberg, U. Heinzmann: Comparison of interface quality in evaporated and sputtered Mo/Si multilayers for X-UV optics. In: Mater. Structure, 1998, 213-214
1997R. Senderak, M. Jergel, S. Luby, E. Majkova, V. Holy, G. Haindl, F. Hamelmann, U. Kleineberg, U. Heinzmann: Thermal stability of W1-xSi/Si multilayer reflective coating under rapid thermal annealing. In: J. Appl. Phys. , 1997, 2229-2235
1996E. D'Anna, A. Luches, M. Martino, M. Brunel, E. Majkova, S. Luby, R. Senderak, M. Jergel, F. Hamelmann, U. Kleineberg, U. Heinzmann: Thermal stability of W1-xSi/Si multilayer reflective coating under high intensity excimer laser pulses. In: Appl. Surf. Sci., 1996, 166-170