Prof. Dr. Jiang Li Cao

Profil

Derzeitige StellungProfessor W-3 und Äquivalente
FachgebietHerstellung und Eigenschaften von Funktionsmaterialien,Elektrochemie,Halbleiterphysik
KeywordsDielectric Spectroscopy, Electron Microscopy, Ferroelectrics, Nanostructures, Synchrotron Radiation

Aktuelle Kontaktadresse

LandChina, VR
OrtBeijing
Universität/InstitutionUniversity of Science and Technology Beijing
Institut/AbteilungDepartment of Materials Physics and Chemistry

Gastgeber*innen während der Förderung

Prof. Dr. Uwe KlemradtII. Physikalisches Institut (2B) - Physik der kondensierten Materie, Rheinisch-Westfälische Technische Hochschule Aachen (RWTH), Aachen
Beginn der ersten Förderung01.09.2003

Programm(e)

2002Humboldt-Forschungsstipendien-Programm

Publikationen (Auswahl)

2007Jiang-Li Cao, Axel Solbach, Yan Fang, Ulrich Boettger, Peter J. Schorn, Rainer Waser, and Uwe Klemradt : Effects of Thermal Annealing on Lead Zirconate Titanate Thin Film Capacitors with Platinum Electrodes . In: J. Electrochem. Soc. , 2007, G251
2007J.L. Cao, A. Solbach, U. Klemradt, T. Weirich, J. Mayer, P.J. Schorn, and U. Böttger: Probing fatigue in ferroelectric thin films with subnanometer depth resolution. In: Appl. Phys. Lett., 2007, 072905
2006J.-L. Cao, A. Solbach, U. Klemradt, T. Weirich, J. Mayer, U. Böttger, P.J. Schorn, and R. Waser: Density inhomogeneity in ferroelectric thin films. In: Appl. Phys. Lett. , 2006, 052901 -052901
2006J.L. Cao, A. Solbach, U. Klemradt, T. Weirich, J. Mayer, U. Böttger, U. Ellerkmann, P.J. Schorn, P. Gerber, and R. Waser Effects of thermal annealing on the structure of ferroelectric thin films. In: Journal of the American Ceramics Society, 2006, 1321-1325
2006Jiang-Li Cao, Axel Solbach, Uwe Klemradt, Thomas Weirich, Joachim Mayer, Herbert Horn-Solle, Ulrich Böttger, Peter J. Schorn, T. Schneller, and Rainer Waser: Structural investigations of Pt/Ti oxide electrode stack for ferroelectric thin film devices. In: Journal of Applied Physics, 2006, 114107
2005Jiang-Li Cao, Axel Solbach and Uwe Klemradt: X-ray reflectivity studies of ferroelectric and dielectric multilayer structures. In: Physica B: Physics of Condensed Matter, 2005, 122-125