Prof. Dr. Krishnendu Chakrabarty

Profil

Derzeitige StellungProfessor W-3 und Äquivalente
FachgebietRechnerarchitektur, eingebettete und massiv parallele Systeme,Elektronische Halbleiter, Bauelemente und Schaltungen, Integrierte Systeme, Sensorik, Theoretische Elektrotechnik,Kommunikationstechnik und- netze, Hochfrequenztechnik und photonische Systeme, Signalverarbeitung und maschinelles Lernen für die Informationstechnik
Keywordsdiscreet optimization, microfluids, wireless sensor networks, embedded systems, VLSI design and test

Aktuelle Kontaktadresse

LandUSA
OrtTempe
Universität/InstitutionArizona State University (ASU)
Institut/AbteilungSchool of Electrical, Computer and Energy Engineering

Gastgeber*innen während der Förderung

Prof. Dr. Michael GösselInstitut für Informatik und Computational Science, Universität Potsdam, Potsdam
Prof. Dr. Rolf DrechslerFachbereich 03 - Mathematik und Informatik, Universität Bremen, Bremen
Prof. Dr. Bernd BeckerInstitut für Informatik, Albert-Ludwigs-Universität Freiburg, Freiburg
Prof. Dr. Mehdi B. TahooriInstitut für Hochfrequenztechnik und Elektronik (IHE), Karlsruher Institut für Technologie (KIT), Karlsruhe
Beginn der ersten Förderung01.02.2004

Programm(e)

2003Humboldt-Forschungsstipendien-Programm
2013Humboldt-Forschungspreis-Programm für Naturwissenschaftler*innen aus den USA

Projektbeschreibung der*des Nominierenden

Professor Chakrabarty is an international authority in integrated circuit testing. He has made outstanding contributions to increase the testability of complex system-on-chips. In addition, Professor Chakrabarty is a leading expert in the field of emerging technologies. He pioneered many techniques to optimize microfluidic bio-chips and wireless sensor networks. During his stay in Germany, he intends to focus on the development of new techniques to increase the test quality of nanoscale designs.

Publikationen (Auswahl)

1994Michael Goessel, Krishnendu Chakrabarty, Vitalij Ocheretnij, Andreas Leininger: Identification of failing vectors using signature analysis with application to scan-BIST. In: Journal of Electronic Testing: Theory and Applications, 1994, 611-622