Prof. Dr. Zhigao Hu

Profil

Derzeitige StellungProfessor W-3 und Äquivalente
FachgebietHalbleiterphysik
KeywordsSemiconductor optoelectronics, Optical properties, Spectrocopic characterization, Spectroscopic ellipsometry, Condensed matter films

Aktuelle Kontaktadresse

LandChina, VR
OrtShanghai
Universität/InstitutionEast China Normal University
Institut/AbteilungSchool of Physics and Electronic Science
Websitehttp://faculty.ecnu.edu.cn/_s41/hzg/main.psp

Gastgeber*innen während der Förderung

Prof. Dr. Peter HessPhysikalisch-Chemisches Institut, Ruprecht-Karls-Universität Heidelberg, Heidelberg
Beginn der ersten Förderung01.08.2005

Programm(e)

2005Humboldt-Forschungsstipendien-Programm

Publikationen (Auswahl)

2007Z.G. Hu, and P. Hess: Optimization of the incident angle in infrared spectroscopic ellipsometry: Spectra of C18-alkylthiol monolayers. In: J. Vac. Sci. Technol. A, 2007, 601-606
2006P. Hess, P. Patzner, A.V. Osipov, Z.G. Hu, D. Lingenfelser, P. Prunici, and A. Schmohl: Characterization of silicon-oxide interfaces and organic monolayers by IR-UV ellipsometry and FTIR spectroscopy. In: SPIE Proceedings, 2006, 63250H-1-63250H-13
2006Z.G. Hu, P. Prunici, P. Patzner, and P. Hess: Infrared spectroscopic ellipsometry of n-alkylthiol (C5-C18) self-assembled monolayers on gold. In: J. Phys. Chem. B, 2006, 14824-14831
2006Z.G. Hu, and P. Hess,: Optical constants and thermo-optic coefficients of nanocrystalline diamond films at 30-500 oC. In: Appl. Phys. Lett., 2006, 081906-1-081906-3