Dr. Sergey Filimonov

Profil

Derzeitige StellungProfessor W-1 und Äquivalente
FachgebietHalbleiterphysik,Oberflächenphysik
Keywordsepitaxial growth, organic films, organic-inorganic heterostructures, first principles calculations, Monte Carlo simulations

Aktuelle Kontaktadresse

LandRussische Föderation
OrtTomsk
Universität/InstitutionTomsk State University
Institut/AbteilungDepartment of Physics

Gastgeber*innen während der Förderung

Prof. Dr. Bert VoigtländerInstitut für Schichten und Grenzflächen (ISG 3), Forschungszentrum Jülich GmbH, Jülich
Prof. Dr. Alexandre TkatchenkoAbteilung Theorie, Fritz-Haber-Institut der Max-Planck-Gesellschaft, Berlin
Beginn der ersten Förderung01.11.2003

Programm(e)

2001Humboldt-Forschungsstipendien-Programm

Publikationen (Auswahl)

2013Wei Liu, Sergey N. Filimonov, Javier Carrasco, Alexandre Tkatchenko Molecular switches from benzene derivatives adsorbed on metal surfaces. In: Nature Communications, 2013, 1-6
2007Sergey Filimonov, Yuri Hervieu: Adatom Incorporation and Step Crossing at the Edges of 2D Nanoislands. In: International Journal of Nanoscience, 2007, 237-240
2007Sergey Filimonov, Vasily Cherepanov, Yuri Hervieu, Bert Voigtländer: Multistage nucleation of two-dimensional Si islands on Si(111)-7×7 during MBE growth: STM experiments and extended rate-equation model . In: Phys. Rev. B, 2007, 035428-1-035428-7
2007Sergey Filimonov, Vasily Cherepanov, Yuri Hervieu, Bert Voigtländer: Si nucleation on Si(111)-7x7: from cluster pairs to 2D islands. In: Surface Science, 2007, 3876-3880
2005Sergey Filimonov, Vasily Cherepanov, Neelima Paul, Hidehito Asaoka, Jacek Brona, Bert Voigtländer: Dislocation networks in conventional and surfactant-mediated Ge/Si(111) epitaxy. In: Surface Science, 2005, 76-84
2005Sergey Filimonov, Yuri Hervieu: Step permeability effect and interlayer mass-transport in the Ge/Si(111) MBE. In: Materials Science in Semiconductor Processing, 2005, 31-34
2004Vasily Cherepanov, Sergey Filimonov, Josef Myslivecek, Bert Voigtländer: Scaling of submonolayer island sizes in surfactant-mediated epitaxy of semiconductors. In: PHYSICAL REVIEW B, 2004, 085401-1-085401-6